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IC卡動態彎曲扭曲試驗機技術參數

點擊次數:130 更新時間:2026-02-02

HY(IC)IC卡動態彎扭試驗機技 術 參 數:

本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗;符合以上標準。

產品用途:

   用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

          夾具安裝尺寸按照國家標準執行。

(IC)動態彎扭試驗機_副本.jpg


技術參數:

產品型號:HY(IC)

外形尺寸:L670 X W380 X H220

儀器重量:70kg

電 壓:AC220V±5%

功 率:35W

測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期:1~9999次

扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°,總扭曲角度30°

長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為2mm±0.50mm,

短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為1mm±0.50mm,




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